二手 JEOL JEM 2010F #9184351 待售

JEOL JEM 2010F是为广泛的应用领域而设计的高性能扫描电子显微镜（SEM）。这种最先进的SEM结合了分辨率降至0.4nm的20mm2视场和10-9 Pa的腔室压力，这使得它非常适合纳米级材料的高分辨率成像。SEM强大的设计使系统能够处理低电压和高压成像,非常适合广泛的应用。JEOL JEM-2010F可以在0到30 kV的大范围电压下工作，对于非导电样品也能够在可变压力模式下工作。此SEM具有一个倾斜阶段,允许在任何角度进行样品观察。JEM 2010F允许标准电子检测和反向散射电子成像。利用其5个倾斜的镜头内STEM检测器，显微镜允许同时成像各种材料和特征。此外，它的二次电子传感系统允许精确的复合成分映射。直观的用户界面和强大的自动化功能简化了JEM-2010F的操作。这样可以快速高效地成像,而且用户干预最少。此外，JEOL JEM 2010F与一套后处理和分析工具集成在一起，提供从成像到分析的完整工作流程。这包括测量表面拓扑、组成、晶粒大小、层厚度和掺杂浓度等多种性质的能力。JEOL JEM-2010F是高分辨率成像和复杂样品分析的理想选择。其广泛的功能,加上强大的设计和强大的用户界面,使JEM 2010F成为各种应用程序的理想解决方桉。