二手 JEOL JEM 2010F #9235270 待售

JEOL JEM 2010F是一种高性能扫描电子显微镜（SEM）,其设计目的是满足各种应用中的高级成像和分析需求。该设备配备先进的光学器件,即使在低加速电压下,也能提供分辨率最高、聚焦深度更高的图像。JEOL JEM-2010F配备了多种技术，以最大限度地提高成像效率。该柱利用20毫米偏转电子光学系统，在提供无与伦比的分辨率、对比度和图像清晰度的同时，减少单元载荷和扫描失真。此外，自动化的FEG控制、独特的信号检测/校正电路，以及增加光束剂量的能力，使得即使是最具挑战性的样本也能优化成像。JEM 2010F还集成了卓越的硬件和软件组件,以适应从EDXRF到EBSD/EPMA的一系列分析功能。集成的EDXRF机器执行快速X射线分析,而内置的EBSD/EPMA工具允许对各种无机和有机材料（包括半导体和纳米材料）进行表征。关于用户友好性，Easy Auto-Focus（EAF）功能使显微镜的操作变得简单而轻松。EAF模式非常适合处理表面特征参差不齐的样品。资产的稳定性监测仪还确保样品保持在不断的观察之下，并允许仪器在较长时间内的可靠操作。JEM-2010F扫描电子显微镜结合了尖端技术和用户友好的特点，是广泛的科学和工业应用的理想仪器。通过提供最高级别的图像质量和分析性能,此模型的设计超出了要求最苛刻的成像要求。