二手 JEOL JEM 2010F #9253109 待售

JEOL JEM 2010F是一种具有卓越成像能力的先进扫描电子显微镜（SEM）。该系统提供高质量的大放大图像,分辨率高达0.2nm。这是通过冷场发射源和特殊的低振动技术实现的，从而产生更好的对比度和更高分辨率的图像。该2010F的自动化装载系统使样品能够快速地从支架转移到成像室，从而能够快速制备样品。有多种样品制备方法，如水蒸气真空测量和DEBIE™溅射涂层。该2010F包含各种分析功能,可用于高性能成像。能量色散X射线光谱（EDS）可用于样品的元素分析。EDX映射可用于在样本表面上映射组成分布。该2010F带有一个可自定义的图形用户界面（GUI）,可以快速访问显微镜的设置和选择最合适的成像参数。该2010F具有200毫米的单轴倾斜大腔室尺寸，使得大面积映射速度快、效率高。该系统还有一个检测器级，可旋转360°，从多个角度监测样品。该2010F可用于各种行业，包括医药、材料科学、纳米技术和电子。适用于多种样品类型，从生物样品到有机和无机物质。该2010F的设计只需要最低限度的维护。低功耗、高可靠性；平均2010F是广泛应用的理想选择。