二手 JEOL JEM 2010UHR #9240146 待售

ID: 9240146
优质的: 1994
Transmission Electron Microscope (TEM) 1994 vintage.
JEOL JEM 2010UHR扫描电子显微镜(SEM)是一种功能强大的高分辨率成像仪器,设计用于各种样品分析。JEM 2010UHR是一种UHR SEM仪器,具有高达200 kV的加速电压和高对比度和高通量成像性能。显微镜有一个大的标本室,可以容纳直径可达250毫米的一系列样本。它还集成了专有的镜头内检测器,在低kV和高压操作下提供了出色的图像质量。这允许观测具有低导电和绝缘材料的完整纳米级结构。SEM还提供了独特的技术组合,包括:环境和分析操作、相位对比、切片、倾斜序列采集和层析成像,用于详细的三维重建。这些技术可用于检查各种材料,包括金属、绝缘体、聚合物和生物样品。该仪器集成了几种允许先进成像能力的技术,如柱内能量滤波成像(IEF)、电子反向散射衍射(EBSD)、飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)、波长色散X射线光谱(WDS)、电子能量损耗光谱(electron-sorse)。JEOL JEM 2010UHR具有一个大的腔室法兰,允许交换各种各样的样品持有者和标本持有者。它配备了自动化阶段,允许地形扫描、线路扫描、粒子计数等自动操作。此外,还包括μFly™自动倾斜,允许自动改变倾斜角度而不会破坏真空。该仪器还配备了一个可移动样品制备阶段(RSP),可进入一系列样品制备部件和附件。这允许样品涂层,例如用金、碳或铂来改善电子透射率图像的质量。此外,JEM 2010UHR还提供多种原位成像配件,如低温冷却器、执行大气冷却和加热的不同腔室、高压级、腐蚀室和电磁悬浮器。总体而言,JEOL JEM 2010UHR是一个具有强大功能的成像怪兽,可用于从简单成像到复杂分析的广泛应用。它提供了一整套成像和分析技术,以便在各种材料中进行全面的样品分析。
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