二手 JEOL JEM 2011 #293668339 待售
网址复制成功!
单击可缩放
ID: 293668339
Transmission Electron Microscope (TEM)
OXFORD INCA X-Sight
OXFORD Link ISIS EDX Cystem
GATAN Multiscan 794 CCD Camera
Cathodes: Lab-6
With filament
Camera pixel size: 1024x1024
Varicon de-vera 504 enlarger
pole piece: URP22-11.
JEOL JEM 2011是一种扫描电子显微镜(SEM),能够产生复杂地形特征的高分辨率图像。显微镜利用冷场发射光束--一种产生电子束的电子枪,然后由冷凝器透镜聚焦到样品上。这会在样品表面创建光栅图桉,然后由成像透镜扫描,形成样品表面的放大图像。然后由检测器读取此图像,检测器创建样本的数字图像。JEM 2011是一种可靠且用途广泛的SEM,具有多种应用,如材料科学、法医学和半导体研究。它有一个工作室,它是一个真空密封室,并有一个样品支架来固定样品和一个产生图像的观察室。它可以分析从几微米到几百纳米大小的样品。显微镜还能够利用能量色散X射线(EDX)光谱和电子反向散射衍射(EBSD)收集元素和化学分析数据。JEOL JEM 2011配备了多项高级功能,以最大限度地提高用户的便利和准确性。其中包括一个自动启动特征,该特征识别样品的类型并自动调整显微镜的参数以达到最佳设置。它还配备了一个内置的自动化舞台控制系统,使样品能够轻松快速地被扫描。一系列的图像和测量功能,如强度对比度、原子力显微镜(AFM)、数字图像处理都可供研究人员精确分析和研究样本。JEM 2011是分析和可视化材料的有力工具。它能够提供具有高对比度和分辨率的清晰而详细的图像。它可以用来测量样品的物理和化学性质,以及其地形和结构。显微镜还允许快速样品分析,因为它的高速扫描和自动化过程。所有这些特点使JEOL JEM 2011成为各种实验室工作的理想仪器。
还没有评论