二手 JEOL JEM 2011 #293736860 待售

JEOL JEM 2011是一种超高分辨率扫描电子显微镜（SEM），旨在提供一系列样品中精细细节的无与伦比的成像。其先进的光学和电子技术可实现1nm分辨率的高速和高分辨率成像。JEM 2011利用独特的低真空真空场发射（VFEM）源和高分辨率多光束平台,实现更快、更明亮、更均匀的成像性能。SEM结合了传统TEM（透射电子显微镜）关联的景深浅和只有SEM才能实现的景深大。利用能量色散X射线光谱（EDX）、超音速成像（SI）和波前优化成像（WOI）等新成像技术，JEOL JEM 2011提供了样品中元素的高对比度图像。EDX可用于检测样品中元素的痕迹，其谱线模式可提高分辨率和灵敏度。JEM 2011还利用先进的CCD技术，以高分辨率捕捉大型图像。CCD会自动捕获高对比度和低对比度图像,从而消除手动调整。此外，其优化的着色系统使得处理和准确的信号纯度更容易。JEOL JEM 2011为需要更高层次分析的高级研究提供了一个可变的高压加速系统，该系统能够2.5kV+/-0.25V，从而能够研究不同能级的样品。此外,JEM 2011还提供高稳定性和低漂移,即使在较高的加速度下也能实现最佳成像。JEOL JEM 2011因其简化的操作界面，使用快捷方便。其用户友好的菜单、图标和触摸面板功能可提供无缝体验。此外，扫描和成像性能经过了高性能和质量的测试和认证。总体而言,JEM 2011提供了具有低漂移、低真空和高样品吞吐量的超高分辨率成像和高级分析功能,非常适合进行详细而准确的研究。高度用户友好的操作和充足的支持功能使其成为研究的理想工具。