二手 JEOL JEM 2011 #293794446 待售

JEOL JEM 2011
ID: 293794446
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL JEM 2011是一种扫描电子显微镜(SEM),用于材料表面的高分辨率成像和分析。这种装置具有高性能的LaB6灯丝电子源,使它能够产生高达1,000,000倍的放大图像。它配备了一个宽范围的光学系统,使它能够同时以不同的放大倍数聚焦样品的不同部分。这使用户可以灵活地观察样品的不同部分的高放大倍数或低放大倍数。JEM 2011集成了许多功能,以确保高性能和适合于各种应用程序。系统的设计高度模块化,允许用户添加数字成像、能量色散光谱(EDS)和差分干涉对比度(DIC)等功能。这种广泛的特性使得JEOL JEM 2011成为一种用途广泛、功能强大的分析成像工具。JEM 2011还使用了一个自动化的可编程阶段来精确控制样品在成像室内的移动。这一自动化阶段使得精确定位样品的各种方向,并达到最大放大速度容易。此外,SEM系统还可配备反向散射电子探测器和二次电子探测器等附件,有效检测和分析样品信号。JEOL JEM 2011拥有方便的用户友好界面,使用户可以轻松控制其功能和设置。此外,它是为在各种环境条件下使用而设计的,允许在实验室、工业工厂和研究设施等领域使用。此外,还可以在需要时更换或升级设备的组件和部件。总之,JEM 2011是一款用途极为广泛、功能强大的设备,可以配置为满足许多不同应用的需求。它具有广泛的特性和功能,可以对材料表面进行高分辨率成像和分析。其用户友好的界面和模块化设计使其易于使用和维护。JEOL JEM 2011是任何需要高质量成像和分析的研究或工业应用的理想工具。
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