二手 JEOL JEM 2100 #293669996 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 293669996
Transmission Electron Microscope (TEM)
GATAN CCD Camera: 4k x 4k
(2) Retractable STEM detectors: Bright field and dark field imaging
THERMO SCIENTIFIC EDS Silicon Drift Detector (SDD): 138eV (at Mn K-alpha)
JEOL and GATAN Camera computers: Windows XP
EDS Computer: Windows 7.
JEOL JEM 2100是为纳米范围内的成像材料而设计的透射电子显微镜（TEM）。它利用场发射枪（FEG）源产生能穿透样品，然后被探测器探测到的电子产生图像。JEM 2100的能量分辨率为0.8 eV，可用于检查所有类型的样品，包括生物和有机标本。JEOL JEM 2100配备了多种特性。显微镜具有高分辨率成像系统，能够产生高达0.2 nm分辨率的图像。它可用于高对比度成像应用，利用亮场、暗场以及相位和模拟对比度成像技术。亮场成像技术提供高对比度，允许观察样品内的微小细节。此外，该显微镜还配备了附着在样品支架和舞台上的环境控制室，提供了在对样品成像时控制其温度和环境的能力。TEM还提供能量色散X射线光谱（EDX）功能。EDX用于根据样品的特征X射线发射光谱识别和量化样品中的材料。显微镜还配备了二次电子探测器，可用于检测从表面喷射出的电子，并测量有关样品表面地形的信息。JEM 2100还具有强大的自动对准和聚焦系统，可用于将样品快速对准显微镜的图像平面。这有助于确保样品被精确成像并且图像没有失真或模煳。此外，它还有一个用于捕获数字图像的数码相机端口，可以对其进行后期处理，以便进一步分析。综上所述，JEOL JEM 2100是一种高性能扫描电子显微镜，具有纳米范围内成像样品的广泛特征。其0.8 eV的能量分辨率，加上高对比度的成像能力，使其适合检视细腻的生物和有机标本。此外，它的EDX和二次电子探测器提供了精确测量和识别样品内元素和表面地形的能力。最后，它的自动对准和对焦系统有助于保持样本的准确性，而它的数码相机端口使图像的后期处理更加高效。
还没有评论