二手 JEOL JEM 2100 #293822851 待售

JEOL JEM 2100扫描电子显微镜（SEM）是一种世界领先的分析仪器，性能无与伦比，使用户能够看到前所未有的微米和纳米大小的粒子。JEM 2100能够在更高的放大倍率下实现低至0.2 nm的分辨率,并且可以用于生成具有纳米级分辨率的样品的3D数据集。其高度可调的放大倍率允许用户精确研究他们可能无法观察到的细节。JEOL JEM 2100使用了一种新型的肖特基发射枪，能够实现比传统热电子发射枪更高的分辨率。这使得JEM 2100在更高的放大倍率下实现了前所未有的0.2 nm分辨率，从而大大扩展了纳米材料的结构数据和成像。此外，JEOL JEM 2100还配备了一个Cs校正器，通过校正球面和色差效应提高了成像分辨率。JEM 2100的先进探测器允许改进信噪比。洪水枪探测器、EDAX EDX探测器和成像探测器可以方便地检测样品的元素和结构数据。这使用户能够在各种材料上快速生成数据集和图像。电子束也可以修改以达到不同的效果。一个冷凝器透镜修改允许用户聚焦电子束以获得一阶拉普拉斯形状。此效果可用于创建提供三维视图的示例的精细细节的3D数据集。JEOL JEM 2100还具有自动化阶段,允许在成像时精确移动样品,从而使数据收集过程更快、更高效。自动化阶段允许用户定义要成像的区域以及数据收集的扫描速率。JEM 2100充分融合了自动化和新颖的特点，使其成为研究和质量控制的理想工具。其先进的探测器、高分辨率、自动级和冷凝器镜头改装都走到了一起，形成了强大的STEM。这种多功能性使得JEOL JEM 2100成为分析各种材料结构细节的理想选择。