二手 JEOL JEM 2100F #9248479 待售
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已售出
ID: 9248479
Field Emission Transmission Electron Microscope (FETEM)
P/N / Description
EM-21001FBU / Electron microscope basic unit
EM-20145 / Field emission gun
EM-20520 / Illumination astigmatism corrector unit
EM-20500 / CM Lens unit
EM-20023 / High resolution pole
EM-20G80 / High contrast objective aperture
EM-37134PCU / Operation unit
EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit
EM-20531OLACU / Imaging astigmatism correction unit
EM-23080 / DP Rough pump unit
EM-37115MON / Monitor
EM-25400 / Digital hour meter
EM-28022LP2 / Lift pole
SF6 / Gas charge tool
EM-48141D / Water chiller
A11J103SD002-08 II / Voltage regulator for 2100F BU
SP-2100F / Spare parts
CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor
- / Digital STEM package
EM-24541SIOD / Scanning image observation device
EM-27102IAU / Image acquisition unit
EM-24560 / Dark field image observation device
EM-20380 / Hard X-ray aperture
EM-20590 / Electrode short switch
EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T System
IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system
- / GATAN Holder and digiscan function
- / GATAN 925 Double tilt holder
- / GATAN 925
- / GATAN 788 DigiScan.
JEOL JEM 2100F扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率的数字成像仪器,能够产生各种材料的极其详细的图像。利用聚焦电子束，它能够放大高达一百万倍，允许非常小特征的分辨率。JEM 2100F还提供了比其他电子显微镜更广泛的分析能力，包括元素、晶体学和形态学分析。JEOL JEM 2100F具有独特的功能,可为各种应用程序提供强大的成像平台。它拥有集成的高分辨率数字成像设备，可以生成3D渲染图像，并提供后处理能力以增强对比度。它还有一个可变压力室，用于在不同条件下成像样品，以及一个自动化的样品制备阶段。JEM 2100F利用了广泛的电子柱技术，包括冷场发射和静电透镜。这样可以优化系统,以不同的放大倍数生成更高质量的图像,范围从每米的一半到每米的百万分之一。JEOL JEM 2100F还提供了广阔的视野,可以有效地加载样品和更快地成像。JEM 2100F还配备了集成的EDS X射线光谱仪，允许在高达720 Kev的加速电压下进行元素分析。此功能与设备的高级成像功能相结合,使其能够用于复杂的材料表征应用。最后，JEOL JEM 2100F是一个完全自动化的SEM，意味着它能够长时间无人值守运行。这使得它成为实验室的理想选择，在实验室中，一个操作员可以管理一系列实验而不必担心机器的性能。
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