二手 JEOL JEM 2100F #9249571 待售
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ID: 9249571
Transmission Electron Microscope (TEM)
Operated at 200 kV vacuum system for analysis
Part number / Description
EM 21001FBU / Electron microscope basic unit
EM-20145 (ZFE20) / Field emission gun
EM-20520 / Illumination astigmatism correct ex unit
EM-20500 / CM Lens unit
EM-20023 / High resolution pole piece
EM 20080(HCOA) / High contrast objective aperture
EM-37134PCU / Operation unit
EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit
EM205310LACU / Imaging astigmatism correction unit
EM-23080 / DP Rough pump unit
EM 37115MON / Main monitor
EM-25400 / Digital hour meter
EM 28022IP2 / Lift pole
Essential accessories:
SF6 / SF6 Gas charge tool (Local supply)
EM-48141D / Water chiller, one unit type, water-to-air heat exchanger
EM-28220 / UPS Power supporter (UPS-410)
EM-30040(BS) / Beam stopper
EX-37200SMU / Swing mouse unit
DTM-961002 / Step down transformer for CWC
A11J103SD002- / Voltage regulator for 2100F BU (PN: 781168643)
SP-2100F / Spare parts kit
CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor
Battery / Car battery for EM-28220 UPS
STEM / Digital STEM package
EM-24541SIOD / Scanning image observation device
EM-27102IAU / Image acquisition unit
EM-24560 / Dark field image observation device
EM-20380 / Hard X-ray aperture
EM-20590 / Electrode short switch
EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T system
IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system
GATAN / Holder and DigiScan function
- / Model 788 DigiScan II
- / GATAN Double tilt holder 925
Manuals.
JEOL JEM 2100F是一种高性能、高分辨率的扫描电子显微镜（SEM），它将强大、最先进的成像和分析技术与直观、用户友好的操作相结合。该系统具有广泛的应用，从常规成像到3D和光谱学的可能性，提供无与伦比的成像和分析能力。该系统建立在CCD成像系统之上，在所有三种技术中提供真正的高分辨率成像；常规二次电子、反向散射电子和镜头内检测。JEM 2100F具有高性能、高分辨率CCD传感器,能够以1nm及更高的分辨率生成丰富的详细图像和数据。先进的探测器，包括能量色散X射线探测器和总能量探测器，提供高质量的分析数据，并在元素分析和化学分析方面产生准确的结果。JEOL JEM 2100F还配备了多轴采样级，使用户可以方便地操纵和移动不同角度和视角的采样，以及对较大区域进行成像。此外，内置数码相机提供方便的样品查看和检查。高级功能，如双高对比度微机械手和双侧加热和冷却板，为用户提供进一步的灵活性和控制。总体而言，JEM 2100F由于其高性能、详细成像和分析能力，是广泛电子显微镜应用的理想选择。其易用性和直观的操作使其特别适合实验室或研究环境，使其成为一种非常有价值的资产。
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