二手 JEOL JEM 2100F #9255945 待售

ID: 9255945
优质的: 2018
Transmission Electron Microscope (TEM) OXFORD / AZTEC X-Mat 80T EDS TMC Stacis 2100 Active inertial vibration cancellation system GATAN 925 Single tilt holder TEM Lattice image resolution: 0.1 nm STEM Image resolution: 0.2 nm Schottky FEG Gun (ZrO2/W) GATAN 994 CCD GATAN 778 DigiScan II EDS Detector: OXFORD EDS XMAX80 80mm Chiller: Refrigerated circulating system (Air) DC-2020 Digital controller SC24 With (2) DC sensors Rotary pump UPS: Linkup Gonio angle: ±30° CL Aperture: 1.200 um 2.100 um 3.40 um 4.10 um OBJ Aperture: 1.120 um 2.60 um 3.20 um 4.5 um SA Aperture: 1.120 um 2.50 um 3.20 um 4,10 um Operating system: Windows 7 64-bit 2018 vintage.
JEOL JEM 2100F是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于提供高质量、高分辨率的成像和样品分析。这款先进的SEM提供了更好的分辨率和对比度、更短的成像时间以及更强的样品制备能力。其先进的电子光学提供了广泛的成像和校正模式量身定制的需求苛刻的研究人员。JEM 2100F的电子源利用了带有钨丝的场发射肖特基枪,使其能够快速高效地产生高能电子。加速电压范围为5至20 kV,精确分辨率为+/-0.1 V,电子电流高达0.9μA。试样通过30kV-20μA光束以电子方式扫描,这种光束可根据成像目标以不同的分辨率操作。SEM还配备了快速扫描区域检测器选项,可通过标准高分辨率(SHR)成像模式提高成像速度和分辨率。该系统的成像套件包括高角度和低角度成像,这为研究人员提供了一系列获得样本全图像成像的可能性。此外,全自动导航(FAN)模式允许用户快速准确地访问样品上任何感兴趣的区域,而无需手动调整光束位置和图像增强。FAN模式非常适合希望通过传统的SEM技术更深入地探索感兴趣的领域的用户。JEOL JEM 2100F还配备了一系列先进的专用配件,包括遥控取样更换单元、分离控制台以及用于晶体结构分析的自动衍射成像系统。可选的高级光束对准模块和自动采样器模块使用户能够通过计算机控制的轻松性对光束进行精确对准和操纵。JEM 2100F非常适合生物材料的横截面和高分辨率成像以及纳米材料的详细分析等应用。JEOL JEM 2100F具有高分辨率成像和分析的能力,为研究样品时要求完全控制和最高精度的研究人员提供了一个全面的扫描电子显微镜解决方桉。
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