二手 JEOL JEM 2100F #9269139 待售

JEOL JEM 2100F是一种用于分析和成像应用的扫描电子显微镜（SEM）。这种设备的设计允许在各种领域进行例行成像，包括材料科学、生命科学、电子和冶金。显微镜配备了现有的FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission枪，在高能量和电压范围内操作，用于高分辨率成像和分析应用。JEM 2100F配备数码相机和高分辨率成像系统，以低放大率提供清晰细致的图像分辨率。FEI Everhart-Thornley Schottky场发射枪提供了增加的电子电流密度，从而提高了成像能力。此外，镜头内CsIS成像单元和镜头内电子加速度电压调制允许改善图像质量和电子枪控制。FEI Everhart-Thornley Schottky场发射枪可以在1-30 kV的能量范围内操作，允许在低至高能量下操作，以适应特定的成像或分析要求。该枪具有由CsIS镜头内成像机启用的高分辨率数字成像功能，能够详细捕捉表面特征和高分辨率的精细地形结构成像。JEOL JEM 2100F还提供一系列分析能力。能量色散X射线光谱（EDX）可用于元素分析，提供材料的快速光斑分析。另外，电子反向散射衍射（EBSD）可用于合金识别和晶体取向映射的生产。来自成像工具的数据也可用于样品结构的精确3 D重建，从而实现体积结构的可视化。最后，JEM 2100F配备了5轴运动控制的大舞台，提供了样品的精确导航。加上各种样品存根、支架和支架，显微镜可以灵活处理一系列样品。一旦样本登台,DEIpree Focus-detection资产即可用于准确定位要进行成像和分析的领域。