二手 JEOL JEM 2100F #9300950 待售
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已售出
ID: 9300950
优质的: 2010
Transmission Electron Microscope (TEM)
With 2100A Electron gun
PHOENIXTEC S-15K UPS
TMC Stacis III 2100A Active inertial vibration cancellation system
GATAN Male 925 (2100A-R1) Single tilt holder
TEM Lattice image resolution: 0.1 nm
STEM Image resolution: 0.2 nm
Schottky FEG Gun (ZrO2/W)
GATAN UltraScan 894 CCD
GATAN 778 DigiScan II
EDS Detector: JED-2300 Si (Li)
EELS Detector: GATAN GIF Tridiem 863
Chiller: Refrigerated circulating system (Water)
DC-2000 Digital controller
MARUYAMA Rotary pump
Uninterruptible Power Supply (UPS)
Gonio angle: ±30°
CL Aperture:
1.200 um
2.100 um
3.40 um
4.10 um
OBJ Aperture:
1.120 um
2.60 um
3.20 um
4.10 um
SA Aperture:
1.120 um
2.50 um
3.20 um
4,10 um
Operating system: Windows XP
2010 vintage.
JEOL JEM 2100F是一种场发射扫描电子显微镜（FESEM），具有高堆积度和高分辨率相结合。它具有优越的条件组合，为可靠和可重现的图像质量进行了优化。显微镜的设计是为了在低分辨率和高分辨率的研究和成像任何表面形态的最佳性能。JEM 2100F有一个10 keV FEG电子源，带有一个柱内能量滤波器，顶部/底部的信道探测器，以及一个令人印象深刻的35毫米宽的标本室。FEG源保持非常低的发射率，因此在低分辨率或高分辨率成像时生成高度均匀的图像。它还具有低光束电流，保持性能和稳定性。双EDS检测器确保快速准确的成分分析。显微镜装有三维自动对准系统，自动将电子柱对准正弦线圈。这也使得在进行低分辨率或高分辨率成像时更容易保持正确的对准。大孔径使得它非常适合成像具有均匀覆盖范围的大区域。高放大倍率与小工作距离的结合提高了图像质量和分辨率。JEOL JEM 2100F是一种通用仪器,可用于多种应用。它设计用于成像各种标本类型，包括细胞和细菌、颗粒和纤维、薄膜和层状结构，以及一系列材料，如金属、陶瓷和复合材料。它是高分辨率成像、元素和结构分析的理想选择。JEM 2100F提供卓越的图像和分析精度、更快的扫描时间以及卓越的重复性。与单一探测器系统相比，双探测器系统可实现更快的数据采集和更好的分辨率。此外，精细的聚焦和较小的光束步高特征确保了能够获得精确和高度详细的图像。总体而言，JEOL JEM 2100F是一种非常有价值的显微镜，用于对各种标本和材料进行成像和分析。它提供卓越的分辨率、高速成像和最大的稳定性,使用户能够快速准确地获得所需的全面结果。
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