二手 JEOL JEM 2500SE #9373226 待售

JEOL JEM 2500SE是一种用于高分辨率成像和分析应用的扫描电子显微镜（SEM）。它配备了场发射枪（FEG）电子源，提供明亮的电子源供检查分析。FEG电子源由双极发射器阵列组成，延长了源的寿命，提供了可靠的质量图像。显微镜配备了多种探测器，包括二次电子（SE）探测器、反向散射电子（BSE）探测器和能量色散光谱（EDS）探测器。所有检测器都能提供出色的图像质量和高灵敏度。JEM 2500SE具有先进的成像功能,可以对各种样品进行成像。可调SE检测系统允许用户选择最合适的成像模式，而较大的景深则让用户能够捕捉同一标本内不同区域的图像。预先对准的FEG电子源和Wolter光学在扫描和聚焦调整过程中保持图像质量一致。可倾斜的样品支架具有高残留倾斜度和精确的图像调制能力，可以观察三维的精细结构。JEOL JEM 2500SE的封闭工作室使用户能够在不影响真空条件的情况下处理各种样品。该腔室的设计目的是尽量减少对样品和探测器的污染，从而防止对样品造成任何损害。数位控制器可精确调整加速电压,即使在最大放大倍数下也能确保影像的最大解析度。而且，自动导航系统包括一个高性能摄像头，便于在标本中导航。JEOL JEM 2500S能够执行广泛的分析技术,如粒子分析、元素分析、相位分析和元素映射。EDS检测器精确地确定样品的元素组成，而相位检测器则允许用户识别样品的相位分布。此外，JEM 2500SE能够利用其反向散射探测器对样品进行勘测，并根据勘测结果生成报告。JEOL JEM 2500SE还配备了易于使用的软件，可让用户访问所有成像和分析参数。此外，其直观的用户友好界面和强大的程序使用户能够根据自己的特定需求定制显微镜设置。使用JEM 2500SE可以快速高效地进行所有数据采集和分析。