二手 JEOL JEM 3010 #9376084 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

ID: 9376084
Transmission Electron Microscope (TEM) (5) Holders LaB6 Filament OXFORD EDS System Image acquisition: AMT 1K x 1K GATAN Orius camera Option: OXFORD Active noise canceler Resolution: 0.17 nm point 0.1 nm line Sample holders: Single holder Double tilt holder Beryllium holder Cryo holder Heating / Electric holder Accelerating voltage: 300 kV.
JEOL JEM 3010是为工业和研究应用而设计的扫描电子显微镜(SEM)。它能够将图像分辨率降低到1.2nm,从而产生非常详细的曲面和结构图像。JEM 3010配备了大功率电子探针,可实现优越的景深成像和优越的信噪比,特别是对于低千伏应用。JEOL JEM 3010具有大的、高度稳定的polepiece和广角电子枪组件,在广泛的操作条件下提供优越的电子束质量和固体稳定性。这种设置使得JEM 3010能够保持恒定的光束电流和加速电压,即使在长时间的观察期间也是如此。在仪器方面,JEOL JEM 3010配备了高速数字成像系统,能够快速可靠地采集图像。它还配备了一个集成的全自动无透镜数字成像系统,减少了成像时间,有助于充分利用可用空间。在样品和样品分析方面,JEM 3010配备了自动化抽样系统,可控制样品在检验阶段的定位。它还有一个集成的EDX检测器,用来测量到达样品的电子的能量和数量。这样可以对样品进行精确的元素分析,使得JEOL JEM 3010适合进行质量控制和过程监控。JEM 3010还提供了其他功能,例如内置视频监视器、自动舞台控制、内置粒度分析系统以及用于样品蚀刻和原位电化学的可选附件。所有这些功能使JEOL JEM 3010成为工业和研究应用的强大而通用的工具。
还没有评论