二手 JEOL JEM 3200FS #293661300 待售

JEOL JEM 3200FS是当今最强大的扫描电子显微镜（SEM）之一。它提供了前所未有的性能级别,允许对样品进行高分辨率成像和分析。JEM 3200FS采用高分辨率和高真空场发射枪（FEG），它允许卓越的分辨率、更快的操作、改进的信噪比以及高度敏感的成像和分析。该SEM的分辨率高达0.8nm,提供了从无机材料到生物样品等多种材料的精湛图像。它还提供二次电子、反向散射电子和其他分析信号，以允许成分和表面地形的更大分辨率。JEOL JEM 3200FS有一个SEM室，可以处理各种样品，从小型生物样品到大型工业样品不等。该室有多个探测器，包括一个法拉第杯、一个二次电子探测器和一个反向散射电子探测器。这允许在一个系统中使用多种成像和分析技术。JEM 3200FS还具有可用于从远程位置控制显微镜的数字接口。这有助于简化操作以及改进数据收集和分析。这在处理必须小心处理的敏感材料时特别有用。最后，JEOL JEM 3200FS使用了一套用户友好的软件来提供强大的数据处理和可视化。该软件旨在帮助自动化数据采集、操作和分析。总体而言,JEM 3200FS是一种用于成像和分析各种样品的强大工具。它提供了前所未有的性能水平，使其成为任何科学或研究实验室的宝贵工具。