二手 JEOL JEM 3200FS #293796361 待售

JEOL JEM 3200FS是一种场发射扫描电子显微镜（FE-SEM），结合高分辨率成像，加上先进的分析技术，在单一仪器中。JEM 3200FS先进的成像和分析特点是由其产生极低像差电子束的冷场发射电子源和革命性的新信号通道设计所实现的。这使得JEOL JEM 3200FS能够获得高分辨率图像和优异的分析结果。冷场发射源还使JEM 3200FS能够最大限度地减少环境振动和漂移，最终实现成像稳定性。JEOL JEM 3200FS提供多种检查模式，包括SE（二次电子）成像、BSEM（反向散射电子）映射、衍射对比成像、阴极发光（CL）和环境扫描电子显微镜（ESEM）。它还能在无碳涂层、低真空（LV）模式下难以成像的真实SE模式下对非导电样品成像。JEM 3200FS的分析能力包括能量色散X射线光谱（EDS）、X射线荧光（XRF）映射、电子反向散射衍射（EBSD）、EDS化学成像、能量滤波成像（EFI）、氢探针分析（HPA）。JEOL JEM 3200FS配备了全方位的腔室配件，包括全系列的ESD/TEM支架、法拉第杯、RF提取器和静电卡盘，可以容纳不同尺寸和形状的样品。腔室附件保证了最高效、最精确的测量，为各种成像和分析技术提供了理想的平台。JEM 3200FS具有直观的图形用户界面（GUI）和集成的"智能控制"自动操作。这使得用户可以毫不费力地执行复杂的实验，并用简单的命令简化对大量数据的处理。JEOL JEM 3200FS还提供了一系列与计算机相关的功能，包括实时操作控制、功能选项的屏幕预览以及自动录制和播放实用程序。除了这些功能外,JEM 3200FS还提供了一个网络系统来支持多个用户。总体而言，JEOL JEM 3200FS是一种多功能、功能强大的扫描电子显微镜，将高分辨率成像和高级分析能力结合在一个仪器中。高分辨率、高景深的先进成像技术使JEM 3200FS研究最复杂样品结构和组成的理想工具。