二手 JEOL JEM 3200FS #9281736 待售

JEOL JEM 3200FS是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），利用冷场发射电子枪获取高分辨率图像和数据。冷场发射枪使技术随着时间的推移保持稳定，使其能够传递一致和可靠的图像。SEM从单个纳米的样品中产生高分辨率图像,并提供入射电子和二次电子的自动控制,以实现最佳分辨率和降噪。为了最大限度地减少充电效果，SEM采用了集成的低真空系统。再者，三个圆形电子枪透镜利用磁性电子光学器件，在提供出色的图像对比度和宽广的景深的同时，实现更大的分辨率。JEM 3200FS具有分析双束扫描电子显微镜（DB-SEM）的多种特点，包括高压速样传输室、高速成像选项和样品级控制。这些功能使SEM能够对各种示例组件（如图层、边和边界）进行成像。SEM可用于分析高分辨率非破坏性3D分析、电子反向散射衍射（EBSD）、电子束感应电流（EBIC）和能量色散X射线光谱（EDS）技术。EDS使元素分析更简单,因为它有助于将元素组件检测和量化到0.1%或更少。JEOL JEM 3200FS还能够进行线和角度扫描、蜂窝映射和图像缝合。显微镜配有直观的图形用户界面，包含各种操作菜单，方便用户访问各种设置和参数。该软件还可用于远程操作和远程数据采集。总体而言,JEM 3200FS提供高分辨率成像、双束扫描电子显微镜的高级功能以及用于远程操作和数据采集的直观软件。结合其冷场发射电子枪，SEM实现可靠和一致的图像。因此，这项技术非常适合在纳米级成像各种样品并进行各种元素分析。