二手 JEOL JEM 3200FS #9293906 待售

JEOL JEM 3200FS是一种超高分辨率扫描电子显微镜（SEM），用于成像各种材料。该仪器是在各行业的贡献下开发的，以提高成像能力。由于其高分辨率和易用性,它为用户提供了无与伦比的性能。JEM 3200FS提供多种成像模式，包括标准SEM成像、低真空模式金相和反向散射电子（BSE）成像。它还拥有较大的扫描区域，并且能够实现比其前辈更高的放大倍率。JEOL JEM 3200FS配备了能够变压和加速电压的野外发射枪（FEG）。这样可以提高系统的效率,提高图像分辨率和样品安全性。此外，FEG能以更高的电子束电流成像，提供更好的薄层检测以及图像中更大的对比度。仪器还配备了包括双轴测角仪和自动对焦系统在内的高分辨率光学器件。这些在获取图像时提供了精确的控制和更高的精度。SEM还具有先进的暗场和延迟成像功能,能够快速准确地获得高对比度图像。JEM 3200FS是一种可靠而强大的工具,旨在获取广泛的图像信息。它提供高分辨率成像和广泛的功能,使其成为任何研究的理想选择,尤其是在材料科学等领域。