二手 JEOL JEM F200 #293597811 待售

JEOL JEM F200是一种扫描电子显微镜（SEM），提供产生高分辨率成像的场发射电子源，允许以高达5纳米的分辨率放大样品结构的图像。现代的SEM设备JEM F200提供了广泛的功能和选项,使其适合各种应用和样品。JEOL JEM F200的加速度电压高达300 kV，工作距离为3 mm时分辨率为5 nm。一种柱内、冷凝器-透镜光束消光系统，利用加速电压、检测器选择和光束消光的组合，为物体的光束分析提供动态对比度。光束电流可以由0.1 pA调整为20-40 nA，而低电流1-2 pA则可以使用高保真枪机电路。JEM F200利用电子光柱，包括消色差场和环形场作为标准。四个内置探测器可用，包括一个Everhart-Thornley二次电子探测器、一个钨/rhenium反向散射电子探测器、一个透射能量探测器和一个BSE探测器。JEOL JEM F200提供低标本漂移的快速成像,并且可选的点扫描级允许获取纳米级图像。一个自动化的采样级允许方便高效的采样加载，而多位置的针架采样级允许方便的样品定心。另外还有一个暗室端口盖和一个枪室盖，供在超低真空环境中工作的用户使用，例如用于Freeze-Fracture Replication。JEM F200还包括各种自动化功能,例如相移扫描和延时采集。内置计算机具有高速单处理器,可提供多种成像模式、自动操作和控制设备参数。温控机提供+/-0.5摄氏度精度和全自动化的温度控制。总体而言,JEOL JEM F200具有高精度成像和自动化操作,非常适合各种应用,包括生物、工业和研究环境。该工具能够在高达5纳米的范围内产生极高分辨率的成像,并凭借其内置的探测器、自动采样级和自动化功能提供出色的功能。