二手 JEOL JFIB 2300 #293671426 待售

JEOL JFIB 2300是一种聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM），用于分析材料和产生高分辨率的横截面图像，用于材料科学研究。它可以用于广泛的应用，如绝缘体、金属、生物材料和纳米材料的分析和成像。JFIB 2300将集成的300kV FIB柱与场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）结合起来，高效准确地成像分析材料。它有一个超高分辨率的离子柱，能够将离子加速到300kV，并且有一个聚焦离子束（FIB），分辨率为50到200nm。这对于纳米结构的成像和表征非常理想。JEOL JFIB 2300有多种配件，包括离子源、二次电子探测器、高角度环形暗场探测器（HAADF）、反向散射电子探测器（BSE）、模拟和数字图像处理器，以及不同的表面处理系统。它还配备了一个冷冻样品支架，用于进行冷冻压裂和冷冻微加工。系统配备了JVP软件包，允许高速处理图像，用于图像对比度增强和图像锐化。它能够通过结合铣削和成像，以及微断层扫描和图像缝合来产生三维图像。JFIB 2300是一款功能强大、用途广泛的FIB-SEM工具。其高分辨率使得它成为纳米尺度结构成像和表征的理想选择。适用于广泛的科学和工程研究应用，如纳米级科学、材料科学、生物样品分析等。