二手 JEOL JFIB 2300 #9207231 待售

ID: 9207231
Focused ion beam system.
JEOL JFIB 2300是一种扫描电子显微镜(SEM),可以让研究人员详细研究样品的微观形态。显微镜由一个聚焦离子束(FIB)和一个扫描电子束(SEB)共同作用,创造出高度详细的图像。FIB具有广泛的可调整性设置,允许用户拨入亮度并放大到低至1nm的级别。离子束提供了从表面特征到原子水平的非常高分辨率的地形扫描,SEM提供了从表面到样品中10 μ m深度的优秀图像。JFIB 2300提供了广泛的功能,使其成为实验室中必不可少的工具。显微镜能够从样品表面生成高分辨率的3D图像,这对于检查非常小的特征非常重要。显微镜的双光束使它能够同时获取样品和背景的图像,从而提高对比度和分辨率。此外,还可以调整显微镜的成像和倾斜控制系统,以快速准确地生成高度详细的图像。显微镜的高精度归功于其自动聚焦系统和广泛的检测器几何设置。这使得研究人员能够以极高的精确度观察最微小的细节。此外,显微镜还配有一个柱内能量滤波器,可用于优化能量谱以及提高SEM图像的对比度和分辨率。JEOL JFIB 2300提供的高端自动化标本制备功能也是研究实验室的宝贵资产。它包括一个自动化的样品级,使显微镜能够旋转、倾斜和自动聚焦样品的不同区域。这样可以同时对多个区域进行成像。此外,自动化的SEM成像技术,如背面成像,使显微镜能够消除可能干扰成像过程的表面和地下特征。JFIB 2300是一种极为有效的扫描电子显微镜,用于纳米级成像样品。它的用户友好型设计使其成为研究人员的理想工具,他们希望以非常高的准确性和细节来评估复杂的生物和材料样品。图像的高分辨率和柱内能量滤波器为研究人员提供了一种可靠有效的方法来探索其标本的微观特征。
还没有评论