二手 JEOL JFS 9855S #293645448 待售

JEOL JFS 9855S
ID: 293645448
Focused Ion Beam (FIB) System.
JEOL JFS 9855S扫描电子显微镜是一种高度先进的设备,可以对纳米级样品进行详细分析。这种显微镜利用了几种成像技术的组合,包括扫描电子显微镜、二次电子成像和反向散射电子成像。JFS 9855S是一种高性能工具,在各种应用程序中具有极高的竞争性能水平。显微镜采用一种高度专业化的电子光学器件,其设计目的是产生聚焦且定义明确的电子束。高分辨率扫描电子探测器能够为样品提供分辨率高达1纳米的图像。此外,系统的二次和反向散射电子检测系统还能够对纳米级的特征进行成像。这允许广泛的应用,包括材料科学和半导体制造中的样品分析。JEOL JFS 9855S显微镜还能够进行多种成像技术,包括常规扫描电子显微镜、反向散射电子成像、二次电子成像和能量色散光谱。此外,该系统还包括各种自动化控制和用户友好界面,大大简化了样本准备和数据采集过程。JFS 9855S还包括一些高级功能,例如自动溅射涂层室,它允许在样品表面上创建碳、金或其他金属的薄而均匀的涂层。这种均匀涂层的样品表面是生产高质量图像以及确保样品在成像过程中不会损坏所必需的。利用所有这些功能,JEOL JFS 9855S为用户提供了一种能够准确可靠地生成高分辨率纳米结构图像的工具。总体而言,JFS 9855S扫描电子显微镜是一种功能强大且高度先进的仪器,旨在提供高性能和可靠的纳米成像效果。通过利用先进的电子光学和广泛的成像技术,JEOL JFS 9855S可以获得比传统成像技术更详细的纳米结构图像。JFS 9855S具有令人印象深刻的特性和功能,是希望在高分辨率水平上分析纳米结构或半导体样品的用户的绝佳选择。
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