二手 JEOL JSM 35 #9402450 待售

ID: 9402450
Electron microscope Sample holder and filaments.
JEOL JSM 35是一种扫描电子显微镜(SEM),提供广泛的影像应用,使其成为科学研究的强大工具。它具有丰富的特性和功能,使其成为获取高分辨率图像的理想工具。与其他SEM相比,JSM 35具有卓越的分辨率和图像质量,结构简单且经济实惠。它以钨丝枪为特色,带有两级热电子电子源。这样可以实现更高的光束电流和更好的分辨率,最高可达250 nm。该仪器还具有多种探测器,如二次电子探测器、能量色散X射线探测器和反向散射电子探测器,以提高成像能力和增强元素分析显示。JEOL JSM 35允许用户根据需要从各种扫描模式中进行选择。这些包括扫描模式,如可变压力、可变电流和可变斑点大小扫描。此外,此工具允许用户在可互换的映像模式之间进行选择。这些模式中的选择包括二次电子成像、可变压力成像和反向散射电子成像。JSM 35也可用于准备样品作进一步检查。手动操作系统的机械手,样品支架和真空系统可以方便地选择和移动样品基板。该仪器配备了一套可通过内置状态机配置的自动对齐和跟踪程序。这使用户能够快速、精确地查找样本上的点,并准确地从一个点移动到另一个点。这种可靠的自动化简化了分析,允许更详细的图像捕获和数据收集,从而减少了在单个实验上花费的总时间。数字界面允许与其他图形设计、分析和CAD程序轻松集成。这使用户能够快速、轻松地共享和交流他们的结果。此外,此SEM能够访问更高的分辨率,使用户能够更仔细地检查和评估样品的表面。JEOL JSM 35是SEM的绝佳选择。它具有强大的特性、分辨率和自动化功能,是科学研究和影像应用的绝佳选择。
还没有评论