二手 JEOL JSM 35C #9355833 待售

JEOL JSM 35C扫描电子显微镜（SEM）是为常规和分析成像能力而设计的高性能仪器。仪器装有场发射枪（FEG），产生具有30 kV加速电压的高照明电子束，并能够达到1.5 nm的分辨率。该系统还配备了EDS检测器，允许对样品进行半定量元素分析。JSM 35C还提供多种成像技术。这个SEM兼具二次电子成像（SEI）和反向散射电子成像（BSI）的能力。SEI允许用户可视化样品的表面形态、地形和元素组成。BSI允许在纳米尺度上观察样品的结构和内部特征。自动级允许样品在电子束下精确定位。使用此SEM可以成像的样本大小可以从几毫米到几微米不等。SEM还可以在高达1000 °C的温度下使用合适的标本支架来容纳样品。JEOL JSM 35C是一种通用仪器,能够自动精确测量样品参数,如尺寸、表面积和厚度。此外，SEM可以用于三维成像植物、动物标本和其他物体。SEM的分辨率不受其像素阵列的限制，使得获得其他成像技术无法获得的极高分辨率的对象图像成为可能。JSM 35C内置的样品制备特性允许用一层薄薄的导电材料涂覆样品，以保护和保存样品免受电子束的伤害。还可以通过调整检测器灵敏度和电子束条件来操纵图像的亮度和对比度。最后,SEM包括对光束进行自动导航控制的功能,允许单击即可选择样本的较大区域。总体而言，JEOL JSM 35C是一款符合人体工程学设计的扫描电子显微镜，为用户提供一系列具有高分辨率的高级成像功能。除了自动化的样品准备、导航控制和测量功能外,JSM 35C还能够轻松执行许多分析要求最高的任务。