二手 JEOL JSM 5200 #293663420 待售

JEOL JSM 5200扫描电子显微镜（SEM）是一种用途广泛、功能强大的详细显微镜测量仪器。通过该仪器的高分辨率成像能力，可以非常详细地观察到小物体和感兴趣的特征，放大倍数可达x 140,000。JSM 5200使用的电子源是热电子场发射枪（FEG），具有启动快、稳定性大的优点。待观测的样品在系统的真空室中充满电子束，由此产生的二次电子图像被捕获并显示在监视器上。JEOL JSM 5200包含一些功能,可帮助提高图像质量。在这些特性中，有自动对焦调节、散焦漂移校正、散光校正和数字超级分辨率，可以对图像质量和分辨率进行精确控制。创新的Digital Super Resolution技术使系统能够捕捉到更多关于彼此接近的特性的信息，产生与传统技术相比具有优越清晰度的图像。除了前述技术外，仪器还附有一系列检测器，以各种方式探测样品反射出的电子，允许多种测量能力。这些探测器包括二次电子探测器、反向散射电子探测器、阴极发光探测器和能量色散X射线探测器。后者提供特定于元素的成像，并允许分析样品表面和旁边的化学成分。JSM 5200还提供了用于高级图像分析的软件包AZtecLive。该软件提供了一系列高级功能，包括自动点选择和对比度调整，以及可用于测量样本各种参数的点线配置文件。此外，JEOL JSM 5200易于使用，因为用户界面直观，包含广泛的用户友好功能。该系统非常适合各个领域的许多观测应用，如材料科学应用、故障分析研究、生物组织观测和纳米级研究。