二手 JEOL JSM 5200 #9082752 待售

ID: 9082752
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 5200是一种扫描电子显微镜,设计兼具优越的分辨率和低背景噪声。它能够对纳米结构进行高对比度成像,在二次电子(SE)模式下分辨率为0.6 nm,在SE模式下最小工作距离为8 mm。该仪器配备了两个标准的SE和反向散射电子(BSE)成像探测器。它还能够生成复杂纳米结构的高对比度图像,如量子点和纳米棒,而无需特殊的标本制备。JSM 5200是一种结合了低真空和环境扫描电子显微镜(ESEM)的双束仪器。这两种模式都能够获得0.2nm分辨率,同时保持低水平的背景噪声。此外,仪器能够在各种调制模式下运行,如静压和可变压力。这使用户能够针对不同类型的样本优化环境。JEOL JSM 5200的试样阶段被温度控制,以提高样品稳定性,并允许观察温度敏感的样品。显微镜还能够获取样品的实时图像,从而能够研究细胞迁移等动态过程。JSM 5200能够以多种方式生成颜色,包括色差校正、亮度和对比度增强,以及使用来自三个不同探测器的信号进行图像合成。此外,它还能够以多种格式存储图像,包括TIFF、BMP和JPEG。最后,JEOL JSM 5200配备了一个全自动的标本准备单元,允许抽取标本进行表征。该单元由一个自动装载机、一个压力安装架和一个可变压力级组成,可容纳各种样本量和形状。总体而言,JSM 5200是一种出色的扫描电子显微镜,能够提供低背景噪声的高分辨率纳米结构图像。其双光束功能、自动化的样品制备单元以及多种调制模式使其成为各种成像应用的理想选择。
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