二手 JEOL JSM 5310 #293607014 待售

ID: 293607014
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5310是一种具有高分辨率、高速成像和无与伦比的分析能力的扫描电子显微镜(SEM)。其高效高压电子源的广域STEM (WF-STEM)成像系统被设计为产生无与伦比的3D图像分辨率水平。其高性能的硅漂移检测器放大并增强了来自小粒子、低对比度特征和低Z元素区域的SEM信号。此外,风场模式允许在不同倾斜角上快速和广域成像样品。JSM 5310配备了单柱低真空系统,保留了细腻的样品结构,并提供样品阶段的直接表面接触。微调扫描技术还为ASTAR和实时结构检测等各种成像模式提供了更高的精度和稳定性。减压模式(RP Mode)允许在低真空长期观测期间减少腔室污染。JEOL JSM 5310是一款超高分辨率、高吞吐量的先进成像系统。高图像对比度、高速度和低噪声相结合,使其适用于各种纳米级材料,如集成电路、纳米线、栅格、纳米机电系统等。其CrystalSnapper功能提供实时自动可视化和晶体识别,对生命科学应用有用。JSM 5310可以添加一个可选的二次电子(SE)检测器,以提供更高的SE灵敏度、SE对比度和SE动力学。这种SE检测器还可以提高元素图的稳定性和对比度,更详细地鉴定样品。JSM 530的Compact Mode也是一个有趣的功能,它有助于最大限度地提高成像效果,减少占用空间并降低成本。整体JEOL JSM 5310是一款超高分辨率SEM,凭借先进的成像技术、低真空成像能力和可选的SE检测器,满足了广泛的高端分析需求。高质量的成像结果和复杂的分析功能使其成为大多数成像和分析需求的理想选择。
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