二手 JEOL JSM 5310 #9168864 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

ID: 9168864
优质的: 1995
Scanning electron microscope (SEM) Includes: OXFORD EDX Detector 1995 vintage.
JEOL JSM 5310是一款先进的扫描电子显微镜,旨在提供高质量的成像能力,具有出色的分辨率,允许对广泛的标本进行近距离观察和详细分析。JSM 5310具有高分辨率热场发射枪(TFEG),具有增强的电子光学器件,可提高分辨率,并能够生成各种样品的高分辨率图像。显微镜采用超稳定、低振动、屏蔽的外壳结构,使用户能够获得无噪声、低漂移的图像,并具有出色的分辨率、对比度和景深。该设备非常适合需要纳米级精度的成像应用,如CD测量、密集样品的3D成像、原子力显微镜和电子光对比度成像。JEOL JSM 5310在显微镜中内置了集成的数字图像处理系统,可以让用户快速直观地处理图像。先进的ProScan II Real-Time CCD检测器单元可实现高对比度成像,刷新速度快,提供清晰的图像,信号噪声最小。CCD探测器还包括一个高灵敏度的ElecPhase分析特征,用于微分析能力。显微镜具有25mm的大工作距离和高达500,000 x的高放大倍率范围,使它能够在几乎任何大小的样品上产生极其详细的图像。大的放大倍率范围也使得JSM 5310完全适合广泛的应用,如微结构研究、光学光刻、逆向工程、半导体加工和材料表征。显微镜配有专用的软件包,用于控制成像机的各个方面,并具有广泛的选项,让用户能够根据自己的具体需求量身定制配置。它完全基于PC,使用户能够快速、方便地存储和分析其数据。JEOL JSM 5310为几乎任何类型的成像应用提供了易于使用、高度可靠和数据丰富的工具。它是对各种样品进行高分辨率成像和微观分析的理想选择,能够为从研发到生产和质量控制等应用提供卓越的成果。
还没有评论