二手 JEOL JSM 5400 #9176404 待售

JEOL JSM 5400是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），设计用于各种成像和分析需求。通用仪器套件具有高分辨率的SEM设备，结合高真空室和广泛选择的探测器和样品级。这种技术的结合使显微镜具有无与伦比的灵活性和成像和分析能力。SEM具有可变压力辅助柱,最大工作压力为5 x 10-7 Pa。这有助于保持污染物远离样品,从而提高成像清晰度。直接光束对准系统确保样品定位精确，有助于准确测量样品特征。高压电源允许广泛的电子束能量，使其适合多种材料，包括但不限于金属、半导体、绝缘体、碳氢化合物和分子晶体。JSM 5400还提供了广泛的成像和分析检测器选择，包括节能能量色散X射线光谱仪（EDS）、能量过滤透射电子显微镜（EFTEM）检测器、二次电子检测器（SED）和离子束分析检测器（IBAD）。使用EDS和SED检测器,用户可以快速轻松地表征样本属性并执行元素映射,从而获得对样本组成的详细了解。EFTEM被用于元素映射和研究样品的超微结构，而没有artificial inclusions。IBAD探测器允许一系列离子束分析技术。显微镜有一个独特的样本操作单元，允许自动化的可视化和操作多个样本。自动化的样品处理允许更快的样品准备和更容易的样品移动。专门的环境控制机设计为保持恒温恒湿，使样品在SEM的高真空环境中保持稳定。JEOL JSM 5400具有相对较小的占地面积和较高的用户友好性，这使得它成为分析实验室、研究设施甚至制造业和工业应用的理想选择。JSM 5400具有广泛的显示图像分辨率和现场大小功能,可为各种样本类型提供出色的成像、高质量的数据可视化和强大的分析能力。