二手 JEOL JSM 5410 #293619134 待售

ID: 293619134
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5410是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于高分辨率成像和分析超细结构。它配备了一个野战发射枪(FEG)和一系列的功能为各种应用。FEG产生能量高达7 keV、光斑大小为1 nm的电子用于高分辨率成像,使得JSM 5410非常适合检查样品的精细细节。它也可以在较低电压下用于较大的结构,例如集成电路上的特性。JEOL JSM 5410配备闭路数字成像设备,包括超稳定三滑PentaScan级、快速扫描模块和31 cm/pixel可变扫描模块。这使得微米级的精度在样品定位和导航,以及灵活的采样速度。显微镜还包括二次电子(SE)检测器、反向散射电子(BSE)检测器和高性能数字成像系统。JSM 5410使用溷合成像检测单元,带有像素阵列检测器、闪烁检测器和荧光粉直接读取机。与单一探测器相比,这种溷合工具具有更高的检测效率。JEOL JSM 5410包含一系列用于图像采集和分析的软件包,其中包括JEOL Autoscan软件,该软件为显微镜扫描、成像和测量提供自动控制。此外,JEOL图像分析器软件对SEM图像提供了强大的定量和定性分析.JSM 5410还提供了一系列外部接口和选项,包括用于显微镜清洗的模式发生器和空气流。这台先进的电子显微镜提供各种操作模式、高质量的成像,以及各种成像和分析任务的广泛功能。
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