二手 JEOL JSM 5500LV #293679583 待售
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ID: 293679583
优质的: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
OXFORD Instrument
High vacuum mode
Low vacuum mode (1-130Pa)
SEI and BEI Detector
Modes: COMPO, TOPO, Shadow
LCD Display
2001 vintage.
JEOL JSM 5500LV扫描电子显微镜（SEM）是一种高性能分析工具,用于对不同科学学科的各种样品进行高级成像和微观分析。JSM 5500LV结合了最先进的功能和用户友好的设计,以高放大倍率和高分辨率提供了详细的曲面特征描述方面的卓越功能。JEOL JSM 5500LV的核心是其电子光学系统，其中包括一个热电子电子枪，能够产生能量水平在0.5至30 kV之间的高度聚焦电子束。这种用途广泛的电子源可以精确地控制光束强度和分辨率，使其适用于导电和非导电样品的成像，而无需大量的样品制备。JSM 5500LV具有一个带有电动舞台的大腔室,可容纳各种大小和形状的样品,为各种应用程序提供了灵活性。舞台可以手动控制，也可以通过直观的软件界面进行控制，使用户可以轻松导航和定位样本进行成像和分析。JEOL JSM 5500LV的主要优势之一是其高分辨率成像能力,最大放大倍数可达300,000倍,在30 kV时分辨率为3 nm。这一级别的细节使精细的表面特征和纳米结构具有非凡的清晰度,使其非常适合材料科学、纳米技术和生物研究。除了成像之外，JSM 5500LV还通过能量色散X射线光谱（EDS）和波长色散X射线光谱（WDS）系统为元素和化学成分分析提供了先进的分析能力。这些探测器可以很容易地与SEM集成在一起，以提供有关样品内元素组成和分布的宝贵信息，增强仪器的整体分析能力。JEOL JSM 5500LV配备了综合软件包，允许用户控制SEM操作的各个方面，获取和处理图像，执行元素分析，生成综合报告。软件界面设计为用户友好和直观，使新手和经验丰富的用户能够有效和高效地操作仪器。总体而言，JSM 5500LV扫描电子显微镜是用于高分辨率成像和微观分析的最先进的工具，为广泛的科学和工业应用提供了无与伦比的性能和多功能性。JEOL JSM 5500LV具有先进的功能、易用性和卓越的成像能力,是任何试图突破微观和纳米级成像和分析界限的实验室或研究机构的宝贵资产。
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