二手 JEOL JSM 5510 LV #293669766 待售
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ID: 293669766
Scanning Electron Microscope (SEM)
Accelerator voltage: 0.5-30 kV
Magnification: 18-300000
Resolution: 3.5 nm
Maximum sample size: φ150 mm
Angle range: -10°-90°
Rotate: 360°
Specimen movement range:
X: 20 mm
Y: 10 mm
Z: 5-48 mm.
JEOL JSM 5510 LV扫描电子显微镜(SEM)是一种先进的成像和分析仪器,设计用于纳米力学、材料科学、取证和生命科学领域。此SEM提供明暗场成像、二次电子成像、分析能力以及50倍至500万倍的放大倍数。5510 LV配备了先进的电子枪和光束控制系统,以实现最佳图像质量和高效操作。它还配有一个用于高分辨率成像的现场发射反配对镜头。先进的电子枪在10kV和40kV之间产生一系列高压放大倍数。还包括一个MicroPore Systems Inc.示例阶段,以便于示例加载和自动化阶段操作。5510 LV为各种不同的样品类型提供了高灵敏度的二次电子成像。它还提供高分辨率的远场和近场成像解决方桉,非常适合研究纳米级的样品组成。此外,5510 LV配备了多种先进的分析特性,包括能量色散X射线光谱(EDS)、X射线荧光(XRF)、波长色散X射线光谱(WDX)。这些特性使用户能够以分子尺度识别样品中存在的元素。最后,5510 LV配备了多种软体模组,包括EDAX EDS、FEI EDS、FEI XRF、FEI WDX和Automated Stage Scanning(ASS),用于高效可靠的影像和分析收集。有了这些先进的软件包,用户可以轻松产生高分辨率的图像,并快速分析他们的样本。5510 LV还能够适应各种用户需求,允许用户为不同类型的实验和应用定制自己的SEM。
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