二手 JEOL JSM 5510 LV #9236006 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 9236006
优质的: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 2000
Electron beam type: W-Fillment
Manual backup
Resolution: 3.5 nm at 30 kV
Magnification: 18x (WD48 mm) - x300000 (136 steps)
Electron gun: Tungsten hair pin
Beam current: 1 pA - 10 nA
PC
LV Mode:
Resolution: 4.5 nm at 30 kV
Vaccum: 10-270 pA
Accelation voltages:
0.5 - 30 kV
0.5 - 3 kV (100 kV step)
3 - 30 kV (1 kV step)
Stages:
X Axis: 20 mm
Y Axis: 10 mm
Z Axis: 43 mm (WD5-48 mm)
Tilt Axis: 10±90
Rotation: 360°
Display:
LCD, 17"
SVGA
Monitor: IBM PC/AT
SDRAM: 64MB
Image output:
640 x 480
1280 x 960
Auto function:
Auto Contrast and Bright (ACB)
Auto focus
Auto stigma
Vacuum system:
Compressor: 1.0 MPa
Automatic control
Diffusion pump: 100 L / min
Pumping speed: 2min 30sec
Power supply: 100 VAC Single phase.
2002 vintage.
JEOL JEM 5510是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于材料科学和物理科学研究的多种应用和技术。这个模型利用钨丝阴极来发射一束向样品加速的电子束。这样就可以获得样本的高分辨率和高通量图像。样品放置在真空环境中，以确保没有空气进入和干扰电子束。JEM 5510包含一个专用真空系统，能够达到5 x 10-7Torr的压力条件。高分辨率电子束是通过45kV钨丝阴极产生的，该阴极可以调节，以便在高分辨率和低分辨率图像之间调谐。使用JEOL JEM 5510的反向散射探测器，可以以低至0.5nm的分辨率捕捉到标本的影像和影片。此外，该模型还具有一个高动态测距仪，可以捕捉到样品的最细微的细节，一直到埃的水平。JEM 5510配备了一个电动舞台，允许自动扫描样品。这样就可以方便地在同一平面上对样品进行自动的点对点扫描。预定义的样品支架持有一个最大直径8.5厘米的样品。对于更高分辨率的成像，JEOL JEM 5510提供了二次电子探测器，以提供更高对比度和更高分辨率的图像。这种探测器在低真空应用中特别有用，例如用有机材料成像样品。此外，发射源的先进设计可以防止任何外部磁场干扰更细腻的成像要求。JEM 5510的多功能设计扩展到其软件功能。此模型带有计算机操作的用户界面,允许访问各种成像模式以及数据处理功能。总体而言，JEOL JEM 5510是一种强大的扫描电子显微镜，非常适合小型和高通量成像。凭借强大的构建质量、先进的功能和令人印象深刻的软件功能,JEM 5510在其价格范围内提供了巨大的价值。
还没有评论