二手 JEOL JSM 5600 #293618709 待售

JEOL JSM 5600
ID: 293618709
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5600是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于运行各种样品条件和分析技术。它以1.2 nm的分辨率获取高达50,000倍放大倍率的数字图像,并且可以收集二次电子或反射电子信号。SEM利用常规的反射/衍射方法,其中电子是从电子源产生的,聚焦并入射到样品上以产生图像。电子束由平行的电场和磁场形成,在样品和检测器之间形成电子的最佳密度。JEOL JSM-5600的分辨率非常精确,允许对样品表面进行精确成像,直至原子水平。SEM的光学元件是一种特殊的镜头组合,有助于提供低背景噪声的最高质量的图像。JSM 5600采用模块化设计,使用户能够根据自己的确切需求配置系统。可以根据需要添加可选的舞台适配器,以容纳各种样板支架和舞台。SEM完全由计算机控制,允许用户轻松设置实验。用户可以使用各种软件来控制亮度、分辨率、对比度和显示模式。该系统包括用于成像的二次电子探测器、用于组成或地形分析的反向散射电子探测器、用于元素分析的X射线探测器以及用于样品条件的环境控制器。所有这些探测器都可以结合使用,以便对材料进行高度详细的分析。JSM-5600可用于晶体结构分析、材料研究和分析、表面分析、生物医学成像和半导体制造等多种研究和工业应用。其强大的性能和多用途的设计使其成为高级研究和分析的理想工具。
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