二手 JEOL JSM 5600LV #293648302 待售

JEOL JSM 5600LV扫描电子显微镜（SEM）是对一系列样品材料进行成像、元素组成和3D分析的强大工具。它具有先进的电子光学器件和优于传统SEM的不确定性分辨率，从而产生高分辨率图像。同时获取多个图像也是可能的。此外，2轴测角仪使调整标本方向变得快捷易行。JSM 5600LV具有二次电子探测器,具有3 D成像功能,包括数字阴影成像和野外发射枪,可优化对焦调节。另外，二次电子探测器可以与能量色散X射线探测器结合，产生成像和元素组成测量。JEOL JSM 5600LV还提供自动图像处理和直观的用户界面。自动化图像处理功能包括对比度调整、边缘锐化、缺陷夸张校正和运动补偿。直观的用户界面允许轻松选择参数和简化样本操作,包括将标签、颜色和符号分配给特定位置的功能。此外,还提供了各种各样的成像和分析工具,从高通量无漂移成像到数据处理和分析。JSM 5600LV具有先进的高分辨率模式,可用于对小型样品进行成像或检测超低对比度特征。这种模式可以提高图像分辨率，即使在低加速电压下也能呈现出更高对比度的图像。低加速电压模式也减少了样品的X射线发射，消除了对铅屏蔽的需要。此外，扫描电子显微镜还配备了一系列不同样品尺寸和形状的样品支架，包括安装在导电销上的样品，以便于操作。JEOL JSM 5600LV提供自动粒子和体积测量功能,能够进行精确可靠的定量分析。它能够测量最大100纳米的颗粒，并能够比较样品之间的颗粒或样品内的不同点。JSM 5600LV的动态范围扩展到每秒110亿个计数，允许精确测量低对比度特征。此外,它还能够测量样品的物理属性,包括高度和宽度、相变和局部曲面电势。最后，JEOL JSM 5600LV非常适合对纳米结构形态进行成像，以及扫描厚厚的样品。它是一种用途广泛且易于使用的显微镜解决方桉，适用于从材料科学到生命科学的各种应用。