二手 JEOL JSM 5600LV #293664532 待售

JEOL JSM 5600LV
ID: 293664532
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5600LV是一种用于材料科学领域的扫描电子显微镜(SEM)。它具有多种先进的特点,非常适合对各种样品进行详细的观察和分析。这种显微镜利用碳丝电子源产生电子束,然后在样品上扫描产生放大图像。与其他SEM相比,JSM 5600LV具有多种优势。它配有一个大视野,可以观察较大的样品。此外,它的最大放大倍率高达500,000倍,扫描速率高达每秒40帧,提供的细节远远超出了光学显微镜。显微镜还能够产生多种类型的图像,包括高角度环形暗场(HAADF)和大面积扫描(LAS)。这意味着它可以用来检测样品的不同截面或可能用光学显微镜看不见的感兴趣区域之间的对比。显微镜还提供了多种样品制备技术。可用于低温制剂观察易碎样品或导电薄膜沉积。此外,它还能够进行电子反向散射衍射(EBSD)分析。这使得它能够观察晶体结构,确定晶粒尺寸,分析各种材料的力学性能。显微镜可用于多种研究应用。它是成像微米大小的粒子或结构的理想选择,也可用于分析元素组成。此外,它还可用于检查微观结构(如晶界、缺陷和形态),以及测量晶粒尺寸。它也被用来分析陶瓷材料的形态,而它的LAS模式可以观察到熔化和结晶的行为。最后,JEOL JSM 5600LV是一个令人难以置信的用户友好工具。显微镜的操作软件设计直观,有有用的指令和自动图像优化。这使得学习如何操作显微镜变得容易,即使对于那些经验有限的人来说也是如此。综上所述,JSM 5600LV是一种出色的扫描电子显微镜,为广泛的研究应用提供了详细观察和分析所必需的所有特征。
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