二手 JEOL JSM 5600LV #9105934 待售

ID: 9105934
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5600LV是一种扫描电子显微镜,能够提供高分辨率成像和样品分析。它采用了先进的电子光学设计,采用了冷场发射枪和冷凝器透镜,以提供高亮度和出色的分辨率。显微镜配备了超高分辨率肖特基野外发射枪,使最大光束分辨率达到1.7nm。这台显微镜还具有自动化的光学对准系统,提供了入射角、焦点、散光等参数的自动调节,最大限度地减少图像失真,最大限度地提高分辨率。JSM 5600LV利用超稳定检测器来确保卓越的可重复性和图像稳定性。它配备了500万像素的背光电荷耦合器件(CCD)探测器或互补的金属氧化物半导体(CMOS)相机,提供出色的成像效果。SEM进一步配备了全孔径5段二次电子探测器,用于高分辨率成像。JEOL JSM 5600LV具有广泛的分析和成像能力。这些包括元素映射、相位分析、纳米复合材料分析、X射线光谱和表面轮廓映射。它还允许在标准扫描模式和高倍扫描模式下成像。该显微镜能够借助多收集器系统对微观特征进行精细的探测。该系统还允许自动柱移动以快速准确地访问所有必要的显微镜设置。JSM 5600LV还有一个直观的用户界面来促进用户交互。它具有自动控制功能,简化了对显微镜的直观控制。它还配备了彩色液晶显示屏,便于图像监控和导航。它还包括一个外部控制端口,该端口能够通过远程接口(如PC或笔记本电脑)控制SEM功能。JEOL JSM 5600LV是一种先进的分析工具,非常适合各种应用。它能够提供高分辨率成像和样品分析。它具有广泛的分析和成像功能,以及易于操作的直观用户界面。它非常适合许多行业的各种研究应用。
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