二手 JEOL JSM 5600LV #9314114 待售

JEOL JSM 5600LV
ID: 9314114
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 5600LV是一种高级扫描电子显微镜(SEM),设计用于成像、分析和表征具有亚埃水平分辨率的样品。该仪器配备了高压静电透镜和高性能低压相机。该设计具有可变压力室,可在低真空和高真空模式下运行。这允许在极端条件下进行成像和样品分析,从而使用户能够在高横向分辨率下控制最佳成像条件。该仪器还配备了四象限、四通道切尔尼-特纳单色仪。该工具允许使用从紫外线到红外线的各种电磁信号进行成像,从而实现多种分析类型。光束功率和强度可以调整到1%的精度。还有一个三通道电子能量分析仪,可以测量电子束的波长,识别样品的组成。样品室具有电动样品运动,便于样品加载和精确定位。配备快速扫描的高加速电源,扫描时间短。JSM 5600LV能够同时进行高分辨率成像和高速成像。该系统具有广泛的成像功能,包括采样全方位(SAR)视野和3-Dimensional (3D)成像。JEOL JSM 5600LV扫描电子显微镜还配备了真空系统和离子束沉积单元(IBDU)。IBDU允许用户制备和沉积功能性薄膜,如氧化层和金属或非金属涂层。也可用于制造聚合物、半导体和其他材料表面。此外,它还可以沉积透明导电涂层,如氧化锡(ITO).该仪器提供高级分析工具,如X射线分析、粒子分析、逆向工程和3D重建。这样可以实现广泛的应用,从材料研究到故障分析和逆向工程。它也是对表面和块状材料进行定量表征的理想工具,确保了准确解释的可靠数据。总体而言,JSM 5600LV是一种先进的扫描电子显微镜,即使在极端条件下也能进行最佳成像和分析。它提供了一系列分析和特性分析功能,以实现各种应用和研究目的。
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