二手 JEOL JSM 5610 #293819045 待售

JEOL JSM 5610
ID: 293819045
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5610是一种高性能扫描电子显微镜(SEM),配有电子枪、静电式电子光学柱、电子透镜和探测器。电子透镜有助于控制电子束,检测器检测二次电子、反向散射电子和X射线,使其成为2D和3D成像、成分分析、纳米级成像等应用的理想选择。JEOL JSM-5610的束电流可以调整,以允许高分辨率成像和低剂量应用。一个重要的特点是背景噪声低,使其成为敏感成像应用的理想选择。为了改善图像对比度,SEM配备了一个获得专利的InGaAs Quad Detector,它允许在高能和低能范围内同时成像二次电子和反向散射电子。JSM 5610能够达到5 nm的分辨率,并且能够将标本放大至200,000x。SEM还配备了自动xy级,可容纳60 mm大小的样品,并以1 μ m的增量移动。利用其自动化阶段,用户可以快速方便地操纵标本进行成像。JSM-5610中的光束电流是可调的,SEM配备了整体延迟场能量分析仪和高分辨率EDS(能量色散光谱仪),可以对样品进行精确表征。此外,SEM还配备了边缘上反向散射电子探测器和信号处理器,提高了成像吞吐量,减少了图像失真。最后,JEOL JSM 5610还支持广泛的成像应用,包括纳米探针、智能形状和断层扫描。凭借其高性能、精确的表征能力和广泛的应用,JEOL JSM-5610是一个强大的研发工具。
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