二手 JEOL JSM 5610 #9008606 待售
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已售出
ID: 9008606
优质的: 2002
Scanning electron microscope
Resolution (high vacuum mode): 3.5nm (3.5nm@Acc.volt30kv,WD6mm)
Accelerating voltage: x0.5 to 30kV (53 steps)
Images: SEI, BEI (COMPO, TOPO, Shadow)
Magnification: 18(18x@WD48)x to 300,000x (in 136 steps)
Specimen size: less than 6"
Specimen stage:
Eucentric goniometer
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5 to 48mm
Tilt: -10° to 90°
Rotation: 360°
Electron gun: W filament
Gun bias: automatically settable for all accelerating voltages
Image shift: +12 micrometer or -12 micrometer
Displayed image: 640 x 480 pixels(640×480, 1280×960pixels)
Analytical functions: OXFORD ISIS EDS system
Detectable element range: 5B to 92U
Backscatter
EDS
2002 vintage.
JEOL JSM 5610扫描电子显微镜（SEM）是一种高度先进的成像和分析仪器，用于广泛的研究领域。它使用户能够以详细的分辨率和准确性观察样品的内部结构和表面组成。JEOL JSM-5610在电子束柱架构上运行，该架构由电子枪、加速度柱、电磁光学和探测器组成。它装有钨丝电子枪，将电子加速到预定的能量。然后电子被静电透镜聚焦，允许对样品进行高分辨率成像。标本的高分辨率图像可以在x5至x500, 000的各种放大倍数下获得。JSM 5610的加速电压从0.2kV到30kV是可变的，允许对不同厚度水平的样品进行深入分析。JSM-5610扫描电子显微镜还能够对样品进行能量色散X射线分析。EDX系统与电子枪耦合，为用户提供样品中存在元素的元素识别。此外，JEOL JSM 5610配备了广泛的探测器，可以收集二次电子、反向散射电子和发射电子，为用户提供与样品表面地形有关的宝贵信息。探测器还使用户能够获得样品的组成图和地形图，可进一步用于深入的材料分析和特征分析。总体而言，JEOL JSM-5610是一种功能强大的仪器，在样品成像和分析方面为用户提供了极高的精确度和准确性。它配备了前沿的特点和技术，以简单方便方便用户。对于需要先进成像和分析能力的研究所和工业实验室，强烈建议使用JSM 5610扫描电子显微镜。
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