二手 JEOL JSM 5610LV #9259734 待售
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ID: 9259734
Scanning Electron Microscope (SEM)
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JEOL MP-56100LBU.
JEOL JSM 5610LV是一种扫描电子显微镜(SEM),利用可变压力系统来允许小样品的高分辨率图像。该仪器使用户能够以不同的放大倍率和分辨率水平查看样品,还提供了一个低电压范围(35-2,000 V),增加了它的多功能性。对于高分辨率成像,显微镜配备了牛津仪器IX35 X-MAXN能量色散X射线探测器,提供几乎瞬时的元素映射和能量过滤成像样品。它具有+30/-30°的集成级倾斜规格和80mm的级长。此外,该仪器的设计还便于维护和操作人员进入。在成像能力方面,JSM 5610LV能够在二次电子(SE)中产生具有5nm视场的1nm成像分辨率。此外,它还能够在反向散射电子(BSE)模式下提供5-10nm和14nm视场之间的成像分辨率。除了图像采集,显微镜还为粒子识别和粒子计数任务提供自动特征识别。该仪器同时采用以太网连接和独立系统模式运行,允许用户调整电压、停留时间、显示亮度和对比度等各种参数。此外,用户还可以使用自动图像采集和控制软件设置自动成像协议。此软件还提供了灵活的后处理选项,允许用户处理数据并导出图像以供查看。总体而言,JEOL JSM 5610LV是一款功能强大且用途广泛的SEM,可提供高分辨率成像和广泛的成像功能。此外,其多种特性使其适合材料分析、研究、质量控制等多种应用。
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