二手 JEOL JSM 5800 #9189494 待售
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ID: 9189494
Scanning electron microscope (SEM)
Tungsten hairpin filament emission source
Large size eucentric specimen stage: Specimen, 8"
(5) Axes motor drive
Travels:
X-axis: 125 mm
Y-axis: 100 mm
Z-axis: 43 mm
Rotation: 360º
Tilt: -10º to 90º
Accelerating voltage:
0.3 - 3 kV ( 100 V steps)
3 - 30 kV (1 kV steps)
Electron gun: W Filament
Working distance: 8-48 mm
High-resolution imaging: 3.5 nm
Magnification: 18x to 300000x
Vacuum chamber accommodates specimens: 4" diameter
Versatility: SEI / BEI Modes
Includes:
Cables
Manuals
Readily accessible cross-sectional measurements
Onboard computer for controller
Infrared chamberscope with monitor
Video printer.
JEOL JSM 5800扫描电子显微镜（SEM）是一种高性能、通用的分析工具，设计用于成像和元素分析。它具有强大的高保真场发射电子源，使其对标本形态细节的差异高度敏感。它具有30 kV的最大加速电压和高达100 nA的最大探针电流。JEOL JSM-5800还配备了一整套用户友好的软件包，包括JEOL LaB6测量，它提供了地形和组成信息的精确测量。显微镜的主要光学设备由两个可移动的元件组成，产生了从源头到样品的平行电子束。其电子光学的对角对称性提供了改进的图像分辨率和更大的视野。它的可调光束直径可以在1-500纳米之间，甚至可以用来识别材料成分上最小的差异。它的二次电子探测器可以区分原子序数不同的材料，使其非常适合识别样品内的元素。JSM 5800的高级设计允许用户在多个检测器系统之间进行选择和切换，优化具有一系列特性的样品分析。它的核壳探测器系统能够检测二次电子和反向散射电子。显微镜还配备了新的MicroChemical Analysis Unit，它允许半自动化学分析，分辨率低至1 μ m。JSM-5800带有一个高度敏感的能量色散X射线探测器，可用于元素分析。内置的成像滤镜还允许增加不同显微镜图像之间的对比度。最后，该机的自动化取样阶段和计算机控制自动化提供了快速、精确的取样定位，补充了显微镜的高分辨率成像能力。
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