二手 JEOL JSM 5800 #9219589 待售

ID: 9219589
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS OXFORD INSTRUMENTS INCA Energy 350 Cathodes: Lab6 / W Filament Imaging detectors SEI and Solid-state BEI Complex shaped samples: Custom, spring-loaded sample holder Diffusion and roughing pumps SEM Keyboard Cryogenic stage: Large chamber with port Joystick driven stage Detector: 30 mm PC: Microsoft Windows Qual and quant ED programs Digital imaging and line scanning Elemental dot mapping Montage Phase analysis Includes: RO-33 Water air chiller (6) K-Type filaments.
JEOL JSM 5800是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于提供高分辨率成像和材料分析。它利用电子束通过检测样品发射的二次电子或反向散射电子(BSE)来创建图像。SEM的高分辨率成像能力使得能够观察各种形态、结构,甚至样品的元素组成。JEOL JSM-5800配备了5米可变压力室,允许用户在一系列粒子密度范围内观察样品。低温电子源可防止样品损坏,同时保持图像清晰度和分辨率。JSM 5800配备了先进的电子光学系统,包括前场和场校正线圈、孔径相干性和预气冷凝器透镜。这些组件有助于提高图像分辨率和对比度。该系统还具有透镜内探测器,可进行能量色散X射线(EDX)分析。这允许用户评估样本组成。JSM 5800具有自动聚焦功能,可帮助在观察具有可变组成或地形的样品时进行快速、准确的测量。由数字微处理器控制的柱内能量滤波器有助于减少由于双重散射和光束污染而可能出现的错误图像信号。此特征也可用于获得薄或扁平样品的高对比度图像。JEOL JSM 5800还配备了各种成像模式,旨在分析样品的形状、成分和电性能。其明暗场成像模式使用"信号中性"值检测样本的地形特征。放大图像分析软件随附显微镜,允许对图像的像素进行定量分析。总之,JSM-5800扫描电子显微镜是一种先进的设备,能够提供高分辨率图像,分析形态特征,提供样品的元素组成。显微镜的多功能性和易操作性使得它成为许多应用的有用工具,尤其是在材料科学研究中。
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