二手 JEOL JSM 5800LV #293586819 待售
看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。
单击可缩放
已售出
ID: 293586819
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDS Detector
OXFORD INSTRUMENTS AZtec
SSD Detector: 80 mm².
JEOL JSM 5800LV是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),为材料科学和固态电子应用提供高分辨率成像能力。它配有高分辨率场发射电子源和冷探针样品架,允许极低的样品温度以提高分辨率。JEOL JSM 5800 LV的高能电子束使得各种材料的高通量成像成为可能。它具有较大的景深,可以从纳米尺度到微观尺度对结构特征进行成像。JSM 5800LV具有大型真空室,可容纳直径不超过175毫米或更大的样品,并带有可选的尺寸包络。它配备了用于精细聚焦和放大控制的双电视摄像机设备,与显示器相连,便于观看图像。此外,大腔室允许最多三个样品同时成像与覆盖功能。JSM 5800 LV还带有集成的数据采集和分析系统,使电子显微镜图像能够实时记录和分析。该单元包括一个强大的图像分析机,它允许自动图像处理、数据分析和定量测量。该集成工具还具有特殊软件,用于样品图像和衍射数据的3D重建。JSM 5800LV是一种多功能SEM,旨在为材料科学和固态电子应用提供高分辨率成像功能。它结合了先进的硬件和软件,使用户可以在纳米级获得材料和设备的高分辨率图像。从操作的角度来看,大型真空室和集成的数据采集/分析资产使其成为高效可靠的工具。此外,低温探针样品支架使用户能够以非常高的分辨率对各种材料进行成像,这对于许多材料科学应用来说是必不可少的。
还没有评论