二手 JEOL JSM 5800LV #9079565 待售

ID: 9079565
Scanning electron microscope, (SEM).
JEOL JSM 5800LV是一种高性能扫描电子显微镜,能够提供各种样品的详细成像。该仪器利用电子束产生的二次电子(SEs)来创建样品表面的高分辨率图像。高压电子枪能够产生高达30kV的电子束,检测器设计成对0.5至30kV范围内的SE成像。显微镜可以在高分辨率和低真空SEM模式下操作,允许广泛的成像能力。试样室的设计可容纳各种大小和形状的样品,其特点是真空室能够达到高达1.3 x 10-3 Pa的压力。试样级设计有一个样品马达,可将样品支架沿x-y-z方向移动,从而便于样品特征的精确对准。舞台配备了样本夹紧能力,用于制作样本特征的安全录音。JEOL JSM 5800 LV能够产生样品的高分辨率图像。该成像设备采用Everhigh Optics光柱和3级偏转器,允许在1.4mm的磁场尺寸下将成像分辨率降至1.4nm,在0.4mm的磁场尺寸下最大成像分辨率为0.9nm。成像系统还配备了专有的Everhigh"超HR点"模式,利用狭窄的照明区域实现高衍射限分辨率。显微镜还配备了多项先进功能,包括多模探测器单元、自动分析机、永光探测器和"颜色"分析模式。多模探测器工具能够记录SE、反向散射电子和X射线光谱,从而能够对样品特征进行全面的成像和分析。Everglow探测器消除了外部干扰(如气流)造成的图像失真,从而实现了对高分辨率样品的清晰成像。最后,"颜色"分析模式能够从样本图像中提取和显示颜色信息,从而更深入地了解样本的内部结构。综上所述,JSM 5800LV是一种高性能扫描电子显微镜,能够提供一系列的成像和分析能力。高速Everhigh光学柱和多模探测器相结合,为样品提供极高分辨率的成像和分析,使研究人员能够获得无与伦比的对其形成的洞察力。此外,多模式探测器资产、自动分析模型和颜色分析模式允许对样品进行详细成像,直至原子水平。
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