二手 JEOL JSM 5900 #9102873 待售

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ID: 9102873
Scanning electron microscope (SEM) Tungsten source Detection modes: secondary, backscatter Chamberscope Resolution: 3nm @ 30kV (Se mode), 5nm @30kV (BSE mode) 5-Axis stage Operating system: Windows 98.
JEOL JSM 5900是一种高级扫描电子显微镜(SEM),设计用于高分辨率成像和测量各种样品。它利用钨丝电子枪,以及场发射枪,为优秀的电子探针放大。它的设计还使它能够以高分辨率在多个信息通道中拍摄图像。JEOL JSM-5900具有5,000毫米的大工作距离,能够分析和分析视野广阔的大型样品。它支持从0.7纳米到30毫米的放大范围,也能够进行三维成像和定量分析。而且,其镜头内视频和二次电子成像系统大大提高了成像细节和分辨率。JSM 5900的高性能探测器允许同时收集二次电子和反向散射电子。这为样品提供了优越的地形细节。它还具有一系列探测器,如光电倍增管(PMT)、通道电子倍增器(CEM)和能量分散(EDX)系统,便于对样品的化学成分进行详细分析。JSM-5900还装有JEOL观察控制工具(JOCT),它为高级SEM操作提供了易于使用的接口。它能够收集大量的成像通道,以及处理和分析来自EDX/WDS系统的图像和光谱。此外,系统还配备了自动化功能,如自动对准和样品膜厚度测量。总体而言,JEOL JSM 5900是一种功能强大的扫描电子显微镜,提供最佳成像和分析能力。其用户友好的JOCT界面简化了设备的操作,而其多个探测器和自动化功能使其成为实验室高分辨率、先进成像需求的最佳选择。
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