二手 JEOL JSM 5900LV #293665576 待售

ID: 293665576
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5900LV是一种扫描电子显微镜(SEM),用于高精度和分辨率的成像表面和其他微观特征。它使用聚焦电子束扫描样品表面以生成图像。JEOL JSM-5900LV中的电子束通过电子枪加热的钨丝产生,然后使用静电透镜聚焦。然后将电子加速到高能级,并以一定角度向下指向样品。当光束扫描样品表面时,电子与材料相互作用,导致二次电子级联释放。然后收集并检测这些电子,并用得到的信号生成样品表面的图像。JSM 5900 LV能够提供高分辨率图像,并且在收集与样品的地形、元素组成和缺陷有关的数据方面非常高效。它还具有高达50毫米的大视野,可以对大样本区域进行成像。JEOL JSM 5900 LV也有很大的景深,使得它可以通过一次扫描来获取不同深度特征的图像。这是通过使用可调焦点和二次电子探测器而实现的。JSM 5900LV还包括一个最先进的低真空扫描设备,它能够成像样品而不需要任何额外的涂层。这样可以确保获得的数据质量最高,并且不受涂层材料造成的人工制品的影响。低真空系统也将因电子暴露造成的样品损伤降至最低,使其适合成像细腻的样品。该仪器包括一个自动聚焦补偿单元,该单元可调节各种场深度的焦点,以及一个将图像存储到数字存储卡上的自动图像捕获机。该仪器还包括一个集成的样本操作工具,该工具允许精确的样本定位,以及一个控制台,该控制台能够从远程位置控制仪器。为确保最佳性能,JSM-5900LV配备了一套功能强大的软件包,可用于图像采集、图像处理、分析和数据存储。该软件可以定制以满足用户的要求,包括图像缝合、线条剖析和粒度分析等功能。总之,JEOL JSM 5900LV是一种功能强大、用途广泛的扫描电子显微镜,能够提供高分辨率、高精度和高效率的表面图像和其他特征。集成的低真空扫描资产、最先进的软件包以及自动聚焦补偿和图像捕获模型,使其成为一系列成像和样本分析应用的理想选择。
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