二手 JEOL JSM 5900LV #293743791 待售

ID: 293743791
优质的: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM) OXFORD X-Ray detector ULVAC Pumps Transformer Manuals Cables PC 2000 vintage.
JEOL JSM 5900LV扫描电子显微镜(SEM)是一种通用、先进的仪器,用于各种需要高分辨率和高对比度成像的显微镜和成像应用。这台先进的电子显微镜提供了广泛的分析能力,包括成像、复杂的3D模拟等等。它使研究人员能够获取小型纳米结构的详细3D图像,以及在微观尺度上分析各种材料,以便检测它们的元素组成和元素分布。由于其强大的扫描电子光学和先进的探测器,它可以实现无与伦比的分辨率和图像对比度。JEOL JSM-5900LV利用一个独特的扫描电子柱,使它能够捕获具有亚埃分辨率的图像以实现高质量的成像。显微镜配有集成的侧面检测器,用于捕获成像过程中产生的二次电子,并提供样品组成的信息。另外,探测器具有X射线光谱模式,可以测量样品发出的X射线,以提供对其元素组成的洞察力。仪器具有高真空设备,具有三个独立的真空室,可实现无堆积成像。JSM 5900 LV配备集成电子系统,可实时感知显微镜环境。该单元高速捕获图像,并提供精确的数据处理,以便在成像前自动对准样品,并提高图像质量。此外,显微镜利用自动扫描机在电子束下移动样品,从而实现高通量成像。JSM-5900LV是一种非常先进的扫描电子显微镜工具。凭借其集成的电子和探测器、高真空资产以及自动扫描模型,它为研究人员提供了无与伦比的能力,能够以无与伦比的分辨率和对比度来观察和表征其样品的地形和组成。因此,它是研究人员研究纳米级材料的宝贵工具。
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